@misc{Dorywalski_Krzysztof_System, author={Dorywalski, Krzysztof}, address={Koszalin}, howpublished={online}, publisher={[s.n.]}, language={pol}, type={rozprawa doktorska}, title={System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska}, keywords={elipsometria, spektroskopia, promieniowanie synchrotronowe, właściwości optyczne, materiały optyczne, optoelektronika, system elipsometryczny, materiały szerokopasmowe, rozprawa doktorska, inżynieria i technika}, }