Filters
  • Collections
  • File type
  • Creator
  • Contributor
  • Subject
  • Type
  • Language
Change search criteria ?

Search for: [Contributor = "Stapiński, Tomasz \[Recenzja\]"]

Number of results: 1

Items per page:
add all to bibliography
System spektroskopii elipsometrycznej w zastosowaniu do badań własności szerokopasmowych materiałów optoelektronicznych : rozprawa doktorska

Dorywalski, Krzysztof Patryn, Aleksy [Promotor] Stapiński, Tomasz [Recenzja] Jaroszewicz, Leszek Roman [Recenzja] Wydział Elektroniki i Informatyki (Politechnika Koszalińska)

2014
rozprawa doktorska

Contact details

Address

Biblioteka Politechniki Koszalińskiej ul. Racławicka 15-17 75-620 Koszalin

Phone

(+48) 94 34 78 455

E-Mail

dlibra@tu.koszalin.pl

Visit us!

This page uses 'cookies'. More information