Patryn, Aleksy [Promotor] ; Stapiński, Tomasz [Recenzja] ; Jaroszewicz, Leszek Roman [Recenzja] ; Wydział Elektroniki i Informatyki (Politechnika Koszalińska)
Subject:elipsometria ; spektroskopia ; promieniowanie synchrotronowe ; właściwości optyczne ; materiały optyczne ; optoelektronika ; system elipsometryczny ; materiały szerokopasmowe ; rozprawa doktorska ; inżynieria i technika
Place of publishing: Publisher: Date: Type: Format: Language: Rights:Biblioteka Politechniki Koszalińskiej
Access rights: License:własność autora - umowa licencyjna PK ; bez zgody na sporządzanie kopii