This publication is unavailable to your account. If you have more privileged account please try to use it or contact with the institution connected to this digital library.
Kasprzyk, Mariusz
2005
rozprawa doktorska
Borkowski, Józef [Recenzja] ; Marciniak, Mieczysław [Recenzja] ; Kacalak, Wojciech [Promotor]
Celem pracy jest opracowanie modeli zużycia narzędzi ściernych w zmiennych warunkach procesu szlifowania, z wykorzystaniem probabilistycznego opisu zagadnienia oraz algorytmów symulacji zużycia ściernicy w procesie obwodowego szlifowania płaszczyzn. Matematyczne modele zużycia oparto na założeniu losowości obciążenia mechanicznego ziaren oraz wytrzymałości doraźnej i odporności na obciążenie sumaryczne w czasie pracy ziaren ściernych.
Koszalin
[s.n.]
application/pdf
oai:dlibra.tu.koszalin.pl:1423
pol
Biblioteka Politechniki Koszalińskiej
internet
Creative Commons BY-NC 4.0
Nov 6, 2023
Jan 25, 2022
64
https://dlibra.tu.koszalin.pl/publication/1427
RDF
OAI-PMH
Szafraniec, Filip Kacalak, Wojciech [Promotor] Pawłowski, Witold [Recenzja] Pajor, Mirosław [Recenzja] Wydział Mechaniczny (Politechnika Koszalińska)
Nadolny, Krzysztof Plichta, Jarosław [Promotor] Karpiński, Tadeusz [Recenzja] Gołąbczak, Andrzej [Recenzja]
Wojtewicz, Michał Sienicki, Walery [Promotor] Wydział Mechaniczny (Politechnika Koszalińska) Deja, Mariusz [Recenzja] Zaborowski, Tadeusz [Recenzja] Nadolny, Krzysztof [Promotor]
Czyżniewski, Andrzej Kacalak, Wojciech [Promotor] Kawalec, Mieczysław [Recenzja] Precht, Witold [Recenzja]
Komitet naukowy [ Jan Kaczmarek ]
Żurawski, Łukasz Storch, Borys [Promotor] Kacalak, Wojciech [Recenzja] Wydział Mechaniczny (Politechnika Koszalińska)
Szyc, Marcin Kukiełka, Leon [Promotor] Legutko, Stanisław [Recenzja] Łukianowicz, Czesław [Recenzja] Wydział Mechaniczny (Politechnika Koszalińska)
Forysewicz, Monika Kukiełka, Leon [Promotor] Nadolny, Krzysztof [Recenzja] Pająk, Edward [Recenzja] Wydział Mechaniczny (Politechnika Koszalińska)
Citation style: Chicago ISO690 Chicago
This page uses 'cookies'. More information I understand